日立荧光分布成像系统

型号：EEM View

产品价格：电议采购度：496 发布时间：2022/5/6 10:51:27

仪器产地：中国大陆所属地区：

简要描述：日立荧光分布成像系统
新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品，利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用独特的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光成分图像。

产品咨询

分享到：

标签：日立荧光分布成像系统

产品详情

日立荧光分布成像系统EEM View

一、荧光分布成像系统（EEM View）简介

作为荧光分光光度计的配件系统，这是全球创将相机与荧光分光光度计的完美结合，融合了智能算法的技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。
将它配置到荧光分光光度计中，改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状，可以查看样品图像任意区域的光谱信息，十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等域。

荧光分布成像系统结构.png

新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品，利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用独特的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光成分图像。

二、荧光分布成像系统特点：

1. 可以全面测定样品的光谱数据（反射光、荧光特性）

在不同光源条件下（白光和单色光）拍摄样品图像，（区域：Φ20mm、空间分辨率：0.1 mm左右、波长范围：360-700nm），同时利用的光谱算法，分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息（荧光光谱、反射光谱）

荧光分布成像系统软件分析（EEM View Analysis）界面(样品：LED电路板)

软件界面.png

2. 样品安装简单，适用于各种样品测试

样品只需摆放到积分球上，安装十分简单！

丰富的样品支架

样品支架.png

支持精确测量的校正工具

标准和空白样品.png

荧光分布成像系统是一种全新的技术，新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品，利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用独特的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光成分图像。

日立科学仪器（北京）有限公司为您提供日立荧光分布成像系统EEM View的参数、价格、型号、原理等信息，日立荧光分布成像系统EEM View产地为日本、品牌为日立，型号为EEM View，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

更新时间：2024/1/18 16:18:25

在线留言